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Konferenzen zum Thema Mikrotechnologie, Nanotechnologie in Frankreich
Conference-Service.com stellt der Öffentlichkeit ein Kalendarium wichtiger Konferenzen, Symposien und sonstiger Tagungen im wissenschaftlich-technischen Bereich zur Verfügung.
Obwohl das Verzeichnis mit großer Sorgfalt zusammengestellt und ständig aktualisiert wird, weisen wir auf die Möglichkeit von Fehlern ausdrücklich hin. Bitte vergewissern Sie sich immer beim Veranstalter, bevor Sie über die Teilnahme oder Nichtteilnahme an einer Konferenz entscheiden.
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| 1. |  [ID=160758]ElecMol08 — 4th International Meeting on Molecular Electronics | | 08. Dez 2008 → 12. Dez 2008; Grenoble, Frankreich | | Zusammenfassung: The joined community of physicists and chemists of Grenoble and Strasbourg is organizing the fourth edition of its ElecMol meeting devoted to the recent progress in molecular and organic electronics. | | Themen: The scope of this interdisciplinary meeting is to focus on specific aspects (Topics T1-8) of molecular and organic electronics, including: T1-Single Molecules & Quantum Dots: Junctions, Memories & Switches. T2: Organic Electronics: Materials & Devices. T3: Organic Optoelectronics & Photonics: Materials & Devices. T4: Graphene, Carbon Nanotubes & Nanowires: Synthesis & Devices.T5: Self-Assembly & Supramolecular Architectures. T6: Scanning Probe Microscopies & Near Field Approaches. T7: Molecular Theoretical Modelling. T8: Bioinspired Approaches & Biomimetic Devices. | | Webseite: http://www.elecmol.com/ | | Verwandte Fachgebiete: Festkörperphysik |
| 2. | [ID=82133]Training Course — Growth and Structural Characterization of Semiconductor Nanostructures (FIB-TEM) | | 01. Sep 2009 → 14. Sep 2009; Grenoble, Frankreich | | Zusammenfassung: Epitaxial growth of III-N compounds, Molecular Beam Epitaxy (MBE), X-Ray characterization using Synchrotron radiation (in particular grazing incidence diffraction, grazing incidence small angle X-Rays scattering (GISAXS) and Anomalous Diffraction), Characterization at the monolayer scale of deformation profile using MEIS (Medium energy ion scattering), Quantitative analysis of High Resolution Transmission Electron Microscopy (HRTEM) images, Raman spectroscopy of nanostructrures. The lectures will be followed by practical training in MBE, Xray diffraction and MEIS. | | Webseite: http://www.prominas.eu/Training-Courses-TC-4.html | | Verwandte Fachgebiete: Kurse und Veranstaltungen für Physikstudenten; Festkörperphysik: Halbleiterphysik |
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Stand vom 23. April 2008
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