Conférences - Métrologie et instrumentation - Biélorussie

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XTOP2020 — 15th Biennial Conference on High-Resolution X-Ray Diffraction and Imaging
12 sep 2021 - 17 sep 2021 • Minsk, Biélorussie
Organisateur:
Atomicus OOO, Minsk, Belarus | Institute of Nuclear Problems, Belarusian State University, Minsk, Belarus | International Union of Crystallography (IUCr)
Résumé:
XTOP 2020 – the 15th Biennial Conference on High-Resolution X-Ray Diffraction and Imaging – will take place in Minsk, Belarus, from 12th to 17th September 2021. XTOP is focused on various aspects of X-ray research, covering such fields as X-ray diffractometry, reflectometry, small angle X-ray scattering, stress and strain analysis, and different imaging techniques. The conference provides a scientific platform for researchers and engineers that helps to discover new developments in X-ray instrumentation, measurement techniques, analysis, and applications. Special attention is paid to the presentation of such up-to-date research area as experiments at synchrotrons and XFELs. Besides, XTOP demonstrates introduction of state-of-the-art approaches to analysis like artificial intelligence to solve the most challenging problems. For this purpose, the conference gathers outstanding experts worldwide for giving presentations.
Identifiant de l'évènement:
1383209


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Dernière mise à jour: 09 Octobre 2020