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Konferenzen zum Thema Angewandte Mathematik: Mustererkennung und Bildverarbeitung in den Vereinigten Staaten (USA)

Conference-Service.com stellt der Öffentlichkeit ein Kalendarium wichtiger Konferenzen, Symposien und sonstiger Tagungen im wissenschaftlich-technischen Bereich zur Verfügung. Obwohl das Verzeichnis mit großer Sorgfalt zusammengestellt und ständig aktualisiert wird, weisen wir auf die Möglichkeit von Fehlern ausdrücklich hin. Bitte vergewissern Sie sich immer beim Veranstalter, bevor Sie über die Teilnahme oder Nichtteilnahme an einer Konferenz entscheiden.

Organisatoren können kostenlos ihre Konferenzankündigungen veröffentlichen.

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1.RadarCon 2012 — IEEE Radar Conference
Termin	07. Mai 2012 → 11. Mai 2012	[ID=376767]
Ort	Atlanta, Vereinigte Staaten
Webseite	http://www.RadarCon2012.com
Verwandte Fachgebiete	Angewandte Physik: Elektrostatik, elektromagnetische Wellen

2.IS12 — SIAM Conference on Imaging Science
Termin	20. Mai 2012 → 22. Mai 2012	[ID=389543]
Ort	Doubletree Hotel Philadelphia, Philadelphia, Vereinigte Staaten
Zusammenfassung	This conference is sponsored by the SIAM Activity Group on Imaging Science.
Webseite	http://www.siam.org/meetings/is12/

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Stand vom 12. Dezember 2010