Conference Service Mandl

abstract: Computational Instrumentation (CI) is an interdisciplinary engineering specialty motivated by an emerging revolutionary impact of computing on engineering analysis and design. Through the use of embedded computational intelligence in instruments facilitated scientists to solve critical problems and new findings in turn enable the development of more powerful and sometimes novel instruments. The conference aims to provide a forum for interaction and exchange of ideas among scientists, engineers, researchers and users actively engaged in the area of computational instrumentation.

abstract: Dieser einwöchige Kurs ist Teil einer Weiterbildung zur Instrumentellen Analytik, die sich das Ziel setzt, Hochschulabsolventen, Angestellte der Industrie und arbeitslose Akademiker mit den neuesten Möglichkeiten der modernen Analytik vertraut zu machen. Die voneinander unabhängigen Kurse vermitteln weiterbildende und vertiefende Kenntnisse zur Untersuchung und Charakterisierung komplexer Systeme. Die Weiterbildung richtet sich sowohl an Berufsanfänger und Berufstätige mit einem Abschluss in Chemie oder Physik, aber auch an Absolventen anderer Fachrichtungen, wie beispielsweise Materialwissenschaften. Eine Weiterbildung in instrumenteller Analytik verbreitert das Qualifikationsprofil und dient damit der Verbesserung der Beschäftigungsfähigkeit. Die einzelnen Kurse umfassen jeweils ein abgeschlossenes Themengebiet und bieten insgesamt ein breites, sich ergänzendes Spektrum an Themen zur umfassenden Weiterbildung in der Analytik für Chemiker und Physiker. Die aufeinander folgenden Termine der Kurse ermöglichen den Besuch mehrerer der angebotenen Kurse. Die Kurse umfassen neben einführenden Vorlesungen und Seminaren intensive Praktika und Übungen in Kleingruppen. Die Praktika finden in den Forschungslaboren der beteiligten Arbeitsgruppen statt. Schwerpunkte des Kurses: - allgemeine Einführung in analytische Methoden der Atom- und Molekülspektroskopie - Mikro-Röntgenfluoreszenzspektroskopie: Röntgenoptiken, SDD Detektoren, Spektrenaufnahme und Quantifizierung - 3D Mikro-Röntgenfluoreszenzspektroskopie: konfokaler Aufbau, Charakterisierung des Untersuchungsvolumens, Tiefenprofile, 3D „imaging“, Quantifizierung - Röntgenabsorptionsspektroskopie: chemische Speziation mit XANES und EXAFS, Grundbegriffe: Koordination, Oxidationsstufe, nächste Nachbarn - Praktika: Mikro-RFA und 3D Mikro-RFA Der Kurs wird von der Europäischen Union gefördert (Europäischer Sozialfonds).

abstract: Focus on Microscopy 2010 is the continuation of a yearly conference series presenting the latest innovations in optical microscopy and their application in biology, medicine and the material sciences. Key subjects for the conference series are the theory and practice of 3-D optical imaging, related 3-D image processing, and reporting especially on developments in resolution and imaging modalities. The conference series also covers the rapidly advancing fluorescence labeling techniques for the confocal and multiphoton 3-D imaging of live biological specimens.

abstract: This conference is aimed at bringing together research and technical personnel, from industry, governments, and especially academia, to foster cooperation to increase the utility of operational oceanographic assets to meet defense and homeland security concerns.

abstract: The Novel Techniques in Microscopy Meeting aims at bringing together communities such as lighting, computer graphics, color technologists, optical designers, light sources and virtual reality towards the common goal of design, production and understanding of ambient lighting and a lit model's appearance.

abstract: This Third international conference on metrology CAFMET 2010 in Africa, organized by The African Committee of Metrology, will be a forum for industrials and scientists to exchange information, ideas and experiences. The conferences, tutorials, presentations, material exhibitions and technical visits to firms have common objectives : To promote communication between manufacturers, governmental agencies, universities, institutes of higher education and laboratories dedicated to research and development in the field of measurement ; To present the evolution of metrology and its implications in industry, quality, environment, safety and research.

abstract: This five-day set of short courses on the two major electron spectroscopy techniques, Auger Electron Spectroscopy (AES) and X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS/ESCA) is designed for scientists, engineers, technicians, and students, who would like a detailed understanding of the uses of AES, XPS/ESCA, and Data Processing for surface analysis and depth profiling. The courses can be taken as a 5-day package or individually.

abstract: This course provides participants with the theoretical basis for the estimation of measurement uncertainty and establishment of traceability. The course is intended for laboratory managers and practitioners in analytical laboratories who use reference materials for statistical quality control, method validation and calibration and need to assess measurement uncertainties on customer’s demand or as requirement of ISO 17025.

abstract: Sensor is a device which can respond to some properties of the environment and transform the response into an electric signal. History has shown that advancements in materials science and engineering have been important drivers in the development of sensor technologies. More recently, a new era in sensor technology was ushered in by the development of large-scale silicon processing, permitting the exploitation of silicon to create new methods for transducing physical phenomena into electrical output that can be readily processed by a computer. Ongoing developments in materials technology will permit better control of material properties and behavior, thereby offering possibilities for new sensors with advanced features, such as greater fidelity, lower cost and increased reliability. The seminar aims to discuss recent developments in sensors. This will provide opportunity to all researchers, engineers and industrialists to present recent scientific and technological results on all aspects of the theory, design, fabrication and application of sensor and applied systems, and promote exchange of ideas and techniques.

abstract: Scanning microscopy for forensics, food analysis, medical applications, and health and safety.

abstract: The SENSOR+TEST trade fair in Nuremberg is the leading forum for sensors, measuring and testing. From simple microsensors to complex test rigs, from ready-to-use components to individualized services, the SENSOR+TEST represents the complete competence in measurement technology.

abstract: Agilent Technologies is pleased to announce that the first annual Nano Measure scientific symposium, Nano Measure 2010, will take place June 3-4 at Jagiellonian University in Krakow, Poland. The two-day event will feature keynote speaker Emeritus Prof. Trevor Page of the School of Chemical Engineering and Advanced Materials, Newcastle University, England, as well as some of the most prestigious scientists presenting leading-edge, nano measurement-driven research.

The event agenda comprises four applications-focused sessions: 1) In Situ Life Science Studies, Biomaterials & Single-Molecule Characterization at the Nanoscale; 2) Polymers -- Nanomorphology, Controlled Fabrication & Property Characterization; 3) Nanomechanical Properties of Organic & Inorganic Materials; and 4) Materials at the Nanoscale -- Imaging, Electrochemistry & Electrical Properties.

abstract: The Lehigh Microscopy School will be celebrating its 40th anniversary in June 2010. Considered to be the most comprehensive set of courses in electron and scanning probe microscopy in the world, the Lehigh Microscopy Schools have attracted more than 5,000 professionals from 50 states and 34 countries since its inception in 1970. During the two-week school, lecturers from the world’s leading research institutions and universities teach everything from basic to advanced microscopy. Course offerings include:

Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis (June 7-11)
Introduction to SEM and EDS for the New Operator (June 6)
Scanning Probe Microscopy: From Fundamentals to Advanced Applications (June 14-17)
Problem Solving with SEM, X-ray Microanalysis, and Electron Backscatter Patterns (June 14-18)
Quantitative X-ray Microanalysis: Problem Solving using EDS and WDS Techniques (June 14-18)
Scanning Transmission Electron Microscopy: From Fundamentals to Advanced Applications (June 14-17)
Focused Ion Beam (FIB): Instrumentation and Applications (June 14-17)

abstract: This would be a first in a series of meetings focusing on specific topics in optical remote sensing of the environment. The first would address the coastal ocean and watersheds, with sessions emphasizing the inter-disciplinary nature of the topic. Sessions will cover the state of the art in instruments and methods for exploiting data from imaging spectrometers (hyperspectral/multi-spectral) and LIDAR. Sessions on specific topics such as bathymetry, coastal mapping, biophysical/geophysical retrieval (land and water), and atmospheric correction to name a few will be presented

abstract: The proposed meeting will focus on advances in applied industrial optics. There will be three proposed topics: 1) Industrial Spectroscopy, 2)Industrial Imaging, and 3)Optical Metrology in Industry. Each topic will focus on applied technology that is currently utilized to enhance production, quality, and/or safety in an industrial setting. In addition, an attempt will be made to highlight current trends in applied optics that may have far reaching industrial implications. The meeting will draw from multiple industries to include: food & beverage, pharmaceutical, oil & gas, pulp & paper, chemical, biological, and defense. In addition, it is anticipated that the meeting attendance will be multidisciplinary

abstract: A one-day tutorial course will be organised by A.I.VE.LA.- the Italian Association of LAser VElocimetry and non invasive diagnostics at the premises of the Faculty of Engineering, Ancona, Italy. Aim of the course is to provide the fundamentals of Laser and Noncontact Techniques for Vibration Measurements and to offer hands-on experience on the most advanced instrumentation. The program of the Course will include: - theoretical lectures in the morning, held by leading personalities in the field - hands- on laboratory sessions in the afternoon. The day after the Course, the 9th edition of the Conference on Vibration Measurements by Laser and Noncontact Techniques will take place, offering participants the opportunity to confront with experts in the field.

abstract: The 9th Intl Conference on Vibration Measurements by Laser and Noncontact Techniques will be held at the Faculty of Engineering, Ancona, Italy on 23- 25 June 2010. LANGUAGE: The official language of the Conference is English ABSTRACTS SUBMISSION: 6th February 2010 ABSTRACTS ACCEPTANCE: 28 February 2010 PAPERS SUBMISSION: 29 March 2010 EXHIBITION: An exhibition is planned to enable participating organizations to bring their products directly to the attention of potential customers. Leading manufacturers of laser vibrometer systems, non contact instrumentation and systems for vibro-acoustic testing will exhibit. SHORT COURSE: the day before the Conference, a one-day tutorial course will be held in order to provide the fundamentals of Laser and Noncontact Techniques for Vibration Measurements and to offer hands-on experience on the most advanced instrumentation.

abstract: MICROSCIENCE 2010 is Europe's leading event for microscopy, analysis and imaging. The conference has three parallel Themes of Life, Materials and Frontiers.

abstract: We invite you to attend the International Field Emission Symposium as it comes to Australia for the first time.

The inspiring scientific program focusing on high field nanoscience and atom probe microscopy will include plenary sessions, the IFES Bloch Lecture, EW Muller Award, international keynote lectures and pre-symposium workshops.

IFES 2010 will foster the exchange of ideas and create a stimulating environment in which to collaborate with like-minded colleagues and to learn from experts in the field. We invite abstracts from any aspect of high-field nanoscience and atom probe microscopy.

abstract: NIWeek 2010, the 16th annual customer and technology conference, opens August 3 at the Austin Convention Center in Austin, Texas, for three days of interactive technical sessions, targeted summits, hands-on workshops, and exhibitions on the latest developments for design, control, automation, manufacturing, and test.

abstract: Following the successful Workshops in Peebles (1998), Santander (2004) and Napoli (2007) we at Porto have the privilege to organise the fourth edition of the European Workshop on Optical Fibre Sensors, EWOFS'2010. This initiative is aimed at promoting a scientific meeting with a high level of participants interaction that will enable the open debate and the assessment of new concepts, technologies and applications in the domain of optical fibre sensors, as well as the establishment of new collaborations and networks. EWOFS'2010 intends also to complement in time and geographical location the international conferences in this area, particularly the International Conference on Optical Fibre Sensors.

abstract: Ziel der Veranstaltung ist die Erarbeitung der theoretischen und instrumentellen Grundlagen und der praktischen Anwendungsmöglichkeiten der modernen Schwingungsspektroskopie. Der Fokus auf “real-life“ Beispiele wird dabei helfen, die am besten geeignete der drei diskutierten Techniken für individuelle Probleme auszuwählen. Die Teilnahme an dem Kurs wird auch dazu befähigen, die Vor- und Nachteile der Schwingungsspektroskopie im Vergleich zu anderen analytischen Verfahren besser abzuschätzen und verfügbare schwingungsspektroskopische Daten effizienter auszuwerten. Inhalt: Der Kurs liefert einen Überblick über die theoretischen Grundlagen und den letzten Stand der Gerätetechnik (einschließlich Bildgebungsverfahren) für die Schwingungsspektroskopie (Raman, Mittel-Infrarot, Nah-Infrarot). Weiterhin wird ein breites Spektrum von Anwendungsbeispielen für die chemische und physikalische Analyse von Feststoffen, Flüssigkeiten und Gasen diskutiert. Probenpräparation und mögliche Artefakte (und deren Vermeidung) werden im Detail behandelt und die qualitative und quantitative Analyse werden sowohl für univariate als auch für multivariate, chemometrische Auswertealgorithmen besprochen. Die Behandlung praktischer Applikationen für die chemische, pharmazeutische, kosmetische, Polymer- und Lebensmittel-Industrie sowie für Umweltfragen wird die Relevanz dieser spektroskopischen Techniken für die Materialforschung sowie für die Qualitäts- und Reaktionskontrolle illustrieren. Zielgruppe: Chemiker, Physiker, Chemie-/Physik-Ingenieure und Labor-Techniker der chemischen, pharmazeutischen, Polymer- und Lebensmittel-Industrie Kursleitung: Prof. Dr. Heinz Wilhelm Siesler

abstract: The International Microscopy Congress (IMC) held every four years under the auspices of International Federation of Societies for Microscopy (IFSM) has been providing an international forum for the state of the art of microscopy at the frontiers of research and applications in Materials Sciences and in Life Sciences. The Brazilian Society for Microscopy and Microanalysis (SBMM) is proud and happy to host the IMC17.

abstract: The SPIE Remote Sensing Symposium has become the largest and most prestigious annual international meeting on this subject in Europe with more than 600 attendees and each year sees comprehensive coverage of scientific topics, applications, sensors, systems, and satellite platforms and more than 25 countries are represented. Co-located with the SPIE European Symposium on Defence & Security, this event will provide an excellent opportunity to explore new opportunities to collaborate with new partners from other related fields of activity.

abstract: Ziel des Kurses ist die Vermittlung von Kenntnissen über die zuverlässige Oberflächen- und Dünnschichtanalyse mit Hilfe von Photoelektronenspektren. Es wird gezeigt, auf welche Weise spektrale Intensitätsverteilungen optimal bearbeitet, Steuer- und Bewertungsgrößen eines Peakfits richtig interpretiert und Spektrometerfunktionen korrekt berücksichtigt werden können. Ein Übungsprogramm soll Anwender mit der Verwendung von Datenbanken zur Identifizierung von chemischen Verschiebungen, mit der Serienbearbeitung von parameterabhängigen Messreihen, mit Datenexport, Grafikpräsentationen sowie mit einer praktischen Fehleranalyse vertraut machen. Inhalt: Schwerpunkte des Kurses sind: - Erklärung der spektralen Information - ESCA-Anwendungsbeispiele in der Materialanalyse - mathematische Modellierung der Photoelektronenspektren - Analyse und Diskussion von Fehlern des Peakfits - Einfluss der Spektrometer-Transmissionsfunktion - Übungen mit einer nutzerfreundlichen universellen Spektrenbearbeitungs-, Analyse- und Präsentationssoftware - Beratung zur Serienbearbeitung parameterabhängiger Messreihen, zu Datenexport und zur Ergebnispräsentation Zielgruppe: Anwender der Elektronenspektroskopie (Analytiker, Chemiker, Physiker, Ingenieure und Techniker) aus Forschungseinrichtungen und Industrielabors, die sich mit der quantitativen Analyse der Zusammensetzung und dem chemischen Zustand von Festkörperoberflächen und Dünnschichten befassen Kursleitung: Prof. Dr. Rüdiger Szargan

abstract: Die Rietveldmethode wird primär für quantitative Phasenanalysen und Kristallstrukturverfeinerungen eingesetzt, mit wachsendem Erfolg aber auch zur Bestimmung von Kristallitgrößen, Mikrospannungen und Stapelfehlordnungen. Ziel des Kurses ist es, dass Absolventen die Methode selbstständig anwenden und ihre Ergebnisse beurteilen können. Die notwendigen Grundlagen in Röntgenbeugung und Kristallographie werden im Kurs aufgefrischt. Ziel der großzügig anberaumten Übungen ist, einen sicheren Umgang mit der Rietveldsoftware zu erlernen und ihre Möglichkeiten und Grenzen auszuloten. Inhalt: Schwerpunkte des Kurses sind: - Vermeidung systematischer Fehler bei der Messung von Daten - Korrektur unvermeidbarer systematischer Fehler in den Daten - Auffrischung der erforderlichen kristallographischen und kristallchemischen Grundkenntnisse - Kristallstrukturmodelle, Reflexprofilmodelle und ihre Parameter - Parameteroptimierung und Verfeinerungsstrategie - Beurteilung von Verfeinerungsergebnissen - Bedienung der Rietveldsoftware - Phasen-Quantifizierung mit und ohne Strukturmodell und ihre Fallen - Kristallit- und Partikelgrößen, Mikroverzerrungen: Bestimmung und Bestimmungsgrenzen - Darstellung von Kristallstrukturen - Optional: Ergänzung von Kristallstrukturmodellen mit Fouriersynthesen - Großer Übungsteil, in dem bereitgestellte oder - nach vorheriger Rücksprache - eigene Daten bearbeitet werden können Zielgruppe: Praxisorientierter Einführungskurs für Chemiker, Pharmazeuten, Mineralogen, Geo- und Materialwissenschaftler in Industrie und Forschung Kursleitung: Dr. Johannes Birkenstock